分析從最小的 MEMS 傳感器到超大 XXL 晶圓,或甚至整塊平板顯微器,其間不會對樣品造成破壞。借助最大 300 mm 的橫向移動距離和最高 254 mm 的垂直深度,您可以在 Axio Imager Vario 下檢測大量樣品。一體化機柱設(shè)計確保了穩(wěn)定性。在超凈室內(nèi)檢測晶圓的應(yīng)用中 – Axio Imager Vario 已通過 DIN EN ISO 14644-1 標準認證,并滿足潔超凈室等級 5 的要求。利用驅(qū)動 Z 軸的電動馬達與自動聚焦硬件確保自動調(diào)整至更佳聚焦位置。
特點:
- 兩種手動和一種電動機柱(配有符合工業(yè)標準的三個模式控制按鈕)可供選擇,充分利用顯微鏡最大 300 mm 橫向與縱向移動距離和最高 254 mm 垂直深度的優(yōu)勢。
- Axio Imager Vario 能通過物鏡轉(zhuǎn)盤的上下移動來聚焦樣品。這就意味著,即便是較重的樣品,也可以獲得高精準聚焦精度和可重復(fù)性。
- 借助自動聚焦硬件,您可以精準快速地聚焦低對比度的反射樣品。
- Axio Imager Vario 與 LSM 700 組合應(yīng)用,以高分辨率無接觸地分析敏感樣品。
- Axio Imager Vario 已通過 DIN EN ISO 14644-1 標準認證,并滿足潔超凈室等級 5 的要求。
- 超凈室:
半導(dǎo)體制造與晶圓檢測需要在超凈室內(nèi)完成。根據(jù) DIN EN ISO 14644-1 標準,以每立方米的顆粒數(shù)量和大小將其劃分成不同等級。在超凈室應(yīng)用中,Axio Imager Vario 已通過此標準認證,并滿足超凈室等級 5 的要求。超凈室 ISO 5 等級相當于原 FED STD 209E(1992)標準的 100 級。超凈室套件中包含一個 7 孔物鏡轉(zhuǎn)盤、一個顆粒保護罩及一個防噴嚏保護罩。
自動聚焦硬件:
集成有 Auto Focus 自動聚焦硬件系統(tǒng)的 Axio Imager Vario 能夠在高達 12000 µm 的焦點捕獲范圍內(nèi)實現(xiàn)快速精準的聚焦。在工業(yè)生產(chǎn)和研究的檢測應(yīng)用中,您需要一套聚焦精度能達到物鏡景深 0.3 倍的高精度聚焦系統(tǒng)。該自動聚集硬件適合于使用反射光、透射光、明場、暗場、偏光、微分干涉相差及斜照明觀察方式的應(yīng)用。