ECLIPSE 顯微鏡機(jī)身采用模塊化制造,可滿足多領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用,其中包括半導(dǎo)體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。
ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能,可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。
用戶可選擇使用電動(dòng)和手動(dòng)操控模式以及反射照明專用模式和反射/透射組合照明模式以滿足任何應(yīng)用需求。
ECLIPSE 顯微鏡機(jī)身采用模塊化制造,可滿足多領(lǐng)域的工業(yè)應(yīng)用,其中包括半導(dǎo)體器件、封裝、FPD、電子器件、材料和精密模具制造等。
ECLIPSE LV 系列經(jīng)過不斷的發(fā)展完善并配備了新的光學(xué)系統(tǒng)和功能,可根據(jù)觀察方法和目的 選擇支架裝置和照明裝置以滿足多種觀察需求。
用戶可選擇使用電動(dòng)和手動(dòng)操控模式以及反射照明專用模式和反射/透射組合照明模式以滿足任何應(yīng)用需求。
CFI60-2經(jīng)過改進(jìn)的光學(xué)性能
以獨(dú)特的高數(shù)值孔徑和長工作距離設(shè)計(jì)理念而著稱的尼康 CFI60 光學(xué)系統(tǒng)
經(jīng)過進(jìn)一步改進(jìn),具有一流 的長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。
輕松的操作與數(shù)碼相機(jī)集成
現(xiàn)可使用數(shù)碼控制裝置來檢測包括物鏡信息在內(nèi)的顯微鏡信息,以及對(duì)顯微鏡進(jìn)行電動(dòng)操作,以更高效地進(jìn)行觀察和圖像拍攝
觀察方法可支持多種觀察方法:明場、暗場、偏光、微分干涉、落射熒光和雙光束干涉測量等。