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CDW-3000S-DT激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設(shè)備。它基于菲索干涉原理，通過分析干涉條紋來確定光學表面面形。該設(shè)備集成了先進的光學、機械和電子技術(shù)，具有不損傷被測物品、測量精度高、測量時間短的特點；實現(xiàn)了對準光路和成像光路的電子切換，方便了用戶的使用。

CDW-3000S-DT可以用于檢測高精度光學元器件、光盤、硬盤等，適用于車間加工過程的在線檢測，可整盤檢測。在科學研究、精密器件加工、光學零件測試等領(lǐng)域有著廣泛的應用。  

CDW-3000S-DT主要技術(shù)指標

配置清單

一 ，主要數(shù)據(jù)

1. 第一標準平面（A面）,不鍍膜。工作直徑：D1=φ285mm不平度小于0.05um
   2.第二標準平面（B面），不鍍膜。工作直徑：D2=φ285mm 不平度小于0.08um
   3.準直系統(tǒng)：孔徑F/2.8，工作直徑：D0=φ285mm 焦距：f=400mm
   4.測微目鏡：焦距f=16.7mm，放大倍數(shù)β=15X，視場角2W=40°，成像物鏡：1.D=4.5 II.D=7 III.D=10 F=15 f=23 f=37
   5.工作波長：632.8nm
   6.干涉室尺寸：深400寬500*400mm。
   7.光源規(guī)格：激光ZN18（He-Ne）。
   8.儀器的外形尺寸：長*寬*高 500*600*1200mm
   9.儀器重量：150公斤